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ICT 測試機
I1000

I1000

系統性能
內電路測試 (ICT) 系統中的 Keysight Medalist i1000,是低成本的內電路測試解決方案,適用於只需「恰好足夠測試」的原廠設計製造商。不同於製造業的缺陷分析儀測試系統,和其他安捷倫首創早期研發部署產生的 TestJet 技術 之 ICT 系統,Keysight Medalist i1000 則提供尖端是德科技 VTEP v2.0 動力無向量測試套件,包括屢獲殊榮的 iVTEP 和網路參數量測技術。這些特色提供了無可比擬的微球柵式陣列構裝和覆晶涵蓋範圍,以及接頭的電源和接地接腳 (常見於數位消費性產品和桌上型電腦中)。

另外,也從先前只有類比功能的 ICT 加以改良,新推出的數位版系統現在具備每接腳可程式設計數位卡,以及全新的一組直覺式軟體圖?#20301;?#20351;用者介面 (GUI),可讓程式設計與開發輕鬆省力。

利用新的數位功能,Keysight i1000D 現在可以簡單的低成本長線測試夾具,進行?#35443;?#20301; PCF/VCL 程式庫為基礎的測試、邊界掃描與 I2C/SPI 序列程式設計。這為尋求不增加成本而擴大測試範圍的客戶,帶來了絕佳的機會。
系統規格
數位涵蓋範圍
Keysight i1000D 的數位子系統,運用了領先業界 Keysight Medalist i3070 ICT 的簡單與強大特色,讓客戶只要按幾下滑鼠,即可調整測試速?#21462;?#39493;動與接收電壓。

完整的邊界掃描功能
安捷倫的 i1000 具備完整的邊界掃描功能,包含標準邊界掃描、連接測試到互連測試,讓使用者獲得更多 ICT 功能。

強大的除錯介面
數位除錯 GUI 運用了舊型 Keysight i3070 PushButton 除錯 GUI 的控制與彈性功能,讓工程師與技師能夠完全掌控數位測試參數與測試源碼。

低成本夾具
Keysight Medalist i1000D 使用傳統的 MDA 式長線按壓夾具,進行數位測試。邊界掃描測試、序列程式設計與使用程式庫的測試,全都可順暢進行。使用者現在擁有簡單有效的測試解決方案,同時降低使用 MDA 式夾具的操作成本。
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